一、產(chǎn)品概述：

      6 系列 B MSO 混合信號(hào)示波器 使用1 GHz至10 GHz帶寬對(duì)高速設(shè)計(jì)進(jìn)行故障排除和驗(yàn)證，以低噪音和高達(dá)50GS/s的采樣率獲得精確的測(cè)量，用6通道和8通道的型號(hào)示波器看到更多設(shè)計(jì)細(xì)節(jié)。

二、產(chǎn)品特征：

（一）超低噪聲

       看到從未見過(guò)的信號(hào)詳情。

（1）示波器前端 ASIC 芯片 TEK061 實(shí)現(xiàn)超低的本底噪聲。

（2）5 GHz 時(shí)為 12 位分辨率，200 MHz 時(shí)高達(dá) 16 位分辨率

（3）1 mV/div 和 1 GHz 時(shí)的噪聲<55 µV

（4）50 mV/div 和 10 GHz 時(shí)的噪聲<1.25 mV

（二）同步多通道頻譜分析

       獲取 4 條、6 條或 8 條頻譜分析通道，與時(shí)域信號(hào)處理并行的硬件數(shù)字下變頻器 (DDC) 具有強(qiáng)大的功能。

（1）任何模擬通道均可視為波形、頻譜或兩者

（2）射頻頻率或幅度變化時(shí)繪圖和觸發(fā)

（3）頻譜和時(shí)域波形同步以與射頻和時(shí)域事件相關(guān)聯(lián)

（4）頻譜控制（例如中心頻率和 RBW）獨(dú)立于時(shí)域控制

（三）簡(jiǎn)化的高級(jí)分析

       在 GHz 時(shí)鐘與串行總線上輕松檢定抖動(dòng)。通過(guò)綜合測(cè)量，可將統(tǒng)計(jì)資料納入日常工具包。使用相同的簡(jiǎn)單拖放操作即可添加高級(jí)和日常測(cè)量。

（1）自動(dòng)化測(cè)量與趨勢(shì)分析

（2）Spectrum View（頻譜視圖）同步多通道頻譜分析

（3）高級(jí)抖動(dòng)分析

（4）高級(jí)功率分析

（5）低噪聲紋波測(cè)量

（6）內(nèi)存分析和調(diào)試

（7）高速串行一致性

（8）5G NR 信號(hào)分析

（四）保真度從探頭端部開始

       通過(guò) 4、6 或 8 FlexChannel® 輸入，您可以使用標(biāo)配的 1 GHz 探頭探測(cè)電路，可以連接高性能單端有源探頭或者差分探頭，或者通過(guò) TriMode 探頭實(shí)現(xiàn)一個(gè)探頭同時(shí)進(jìn)行單端和差分量測(cè)。在任何FlexChannel 輸入上連接 TLP058 邏輯探頭，并獲得 8 數(shù)字通道，以擴(kuò)展系統(tǒng)的可視性。

（1）內(nèi)置 1 MΩ 至 50 Ω 輸入端

（2）每個(gè)輸入附帶 1 GHz 低負(fù)載無(wú)源探頭

（3）TekVPI 探頭與每個(gè)通道的 10W 探頭電源相連接，用于差分信號(hào)、電流、電源軌和光隔離探頭

（4）TDP7700 系列 4、6、8 和 10 GHz TriMode 探頭 - 非常適合測(cè)量高速通信

三、規(guī)格概述

1、輸入通道：4、6 或 8 FlexChannel 輸入。每個(gè) FlexChannel 提供一個(gè)模擬信號(hào)輸入或者連接 TLP0581 探頭實(shí)現(xiàn) 8 路數(shù)字邏輯輸入

2、帶寬：1、2.5、4、6、8 或 10 GHz

3、采樣率：50 GS/s（2 個(gè)模擬通道）；25 GS/s（4 個(gè)模擬通道）；12.5 GS/s（模擬通道超過(guò) 4 個(gè)）

4、記錄長(zhǎng)度： 1 G 樣點(diǎn)（4 個(gè)通道）； 500 M 樣點(diǎn)（通道超過(guò) 4 個(gè)）

5、信號(hào)發(fā)生器：13 種標(biāo)準(zhǔn)波形，加上任意波形

6、數(shù)字電壓表：4 位

7、觸發(fā)頻率計(jì)數(shù)器：8 位

8、顯示器：15.6 英寸 (385 mm)，TFT 彩色 HD (1,920 x 1,080) 分辨率電容式（多點(diǎn)觸摸）觸摸屏

四、規(guī)格參數(shù)：

五、其它產(chǎn)品

      自20世紀(jì)50年代開發(fā)Trac Rac技術(shù)以來(lái)，亞太拉斯一直從事戶外加速老化測(cè)試技術(shù)的研發(fā)。Atlas主要測(cè)試場(chǎng)設(shè)在鳳凰城，為用戶提供下列戶外加速老化測(cè)試服務(wù)。UA-EMMA戶外測(cè)試裝置可在一年內(nèi)提供大約10-12年的南佛羅里達(dá)州紫外線輻照總量。